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【原创】关于烧USB口的要关注了，线材也关键！
来源：原创	作者：capron	时间：2006-11-03 21:53:00	点击：7514

各个网上都有关于烧USB口或烧南桥的惨事很多。。。各位兄弟要注意了

这主要是INTEL南桥的问题哈，平时要注意以下一些，但选好USB线也是重中之重啊！！！！
看下面的实际实验吧：
   我们开发的USB—PWM-DIO采集卡，用到差的线，老是和PC机通讯失败丢失数据的现象，经细心研究发现USB线对稳定比起到60%的比重！！！！

测试设备：1、普通数字能用表1只，
                  2、数字存贮示波器1台，GDS-810S双通道100MHZ测量带宽，25G等效采样频率。
                  3、我们新开发的USB_pwm_DIO多功能采集卡一块
                  4、市场买的，所谓的USB2.0线一条（乳白色线），我们定制的标准USB2.0带双磁环的EMI线一条。
               5、本本：T30（USB1.1），SONY-FS15C（USB2.0）

测试目的：在两个本本上装好USB采集卡的驱程后，插上USB线。
                  1、测试USB口与卡的通讯信号质量及抗干扰波形，
                  2、测试USB线的电阻。

  实验开始：

  1）、先测试两线外部屏蔽层阻值对比：

先记下万用表的内阻初值：1.2呢
                  A、所谓的USB2.0线一条（乳白色线），看图


               B、定制的标准USB2.0带双磁环的EMI线，看图

               C、测试得线内部的四线电阻对比，白线内线均为1.7R左右，定制线内线均为1.2R,哪个阻值大知道了吧，这两个阻值测试不上图。

2）、波形测试：
A、所谓的USB2.0线一条（乳白色线），看下图，杂波多，波形偏圆（这对通讯质量是致命的）

B、再来看看定制的EMI线吧，波形方方矩矩的，波形质量好得多了啊~
就这四个图，就发现，这两条线的差别有多大！！！！！！！

白线使用时，传输数据经常失败，定制线就非常的稳定，从没见通讯失败过（经过7天严格老化测试）。

那条白线在市场里买了10条回来都没一条能用，10条还贵着，5元一条

我定制了一小批，8元一条。线材、USB头，EMI磁环我指定供应商。钱差得不多，价格可差得远了。

作者: capron 　责任编辑: zjerry 　报导时间: 2006-11-3 21:52
讨论连接: 【原创】关于烧USB口的要关注了，线材也关键！~

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	评论人	评论内容	日期
1	kenwood1001	谢谢楼主，又长见识了！	11-07 19:44
2	cqsuyi	:) 联系人:QQ:349835572 MSN:suliyi1985@hotmail.com	11-07 17:12
3	cqsuyi	我公司是做刺破式USB的.有兴趣的聊聊.少了焊线那道工具........... 跟水晶头的制作原理是一样的.好用哟..........	11-07 17:11
4	ehua	电阻测不科学,要把表笔内阻去掉,信号完整性用眼图看,洞大不大,清不清晰,南桥坏是因为电源倒灌造成的,比如差分线是3.3v的.跑个5v进去了	12-13 12:04
5	davyt43	usb导致南桥故障的表现？？？ [[i] 本帖最后由 davyt43 于 2006-12-13 09:29 编辑 [/i]]	12-13 09:26